Dwóch inżynierów University College London zdecydowało się na wykonanie niecodziennego testu. Dwanaście standardowych kart SIM poddawano piekielnym torturom, a potem z nich dzwoniono. Dwóch inżynierów University College London zdecydowało się na wykonanie niecodziennego testu. Dwanaście standardowych kart SIM poddawano piekielnym torturom, a potem z nich dzwoniono. Jak się okazuje, wbrew sloganom działów technicznych biur obsługi klienta, te niewielkie kawałki plastiku, są bardzo odporne na działanie czynników zewnętrznych. Testowe 12 kart SIM podgrzewano intensywnie przez 10 minut. Pierwszy z testów w temperaturze 180 stopni Celsjusza przeżyło 6 kart, przy zachowaniu pełnej funkcjonalności. W kolejnej próbie na ruszt trafiło 5 kart. Temperatura ustalona na 450 stopni Celsjusza była drastyczniejsza w skutkach, pozostawiając przy życiu już tylko jedną z kart. Ostatnia próba to już ognie iście piekielne - 650 stopni Celsjusza. Tego piekła nie przeżyła już żadna z 12 testowanych kart. Autorzy testu skwitowali wyniki stwierdzeniem, że gdy wybuchnie telefon, w dalszym ciągu jest szansa na odzyskanie cennych danych z karty SIM.
)
